|
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп НТ-206
Аннотация предложения
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) НТ-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и нанорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с нанометровым разрешением.
Описание предложения
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп НТ-206 включает в себя измерительный модуль и блок электроники управления.[br][/br][br][/br]Измерительный модуль состоит из базовой платформы и устанавливаемой на ней измерительной головки. Обеспечивает измерение движущегося образца (максимальные размеры образца: Ø30 мм, высота 8 мм) под неподвижным зондом.[br][/br][br][/br]Базовая платформа обеспечивает установку измерительной головки, а также размещение и сканирование образца. Включает трубчатый пьезосканер XYZ-перемещения исследуемого образца. Содержит систему автоматического подвода/отвода.[br][/br][br][/br]Платформа XY-позиционирования обеспечивает автоматизированное перемещение измерительной головки относительно предметного столика в плоскости XY в пределах 10х10 мм (шаг до 2,5 мкм, визуальный контроль до 10 мкм). Возможно ручное позиционирование.[br][/br][br][/br]Измерительная головка с лазерно-лучевой схемой детектирования отклонения консоли зонда поддерживает работу во всех режимах (статических и динамических). Ориентирован на применение АСМ-зондов (Si, SiN) на чипах размером 3,6x1,4x0,6 мм, устанавливаемых в сменном держателе.[br][/br]Встроенная видеосистема повышает удобство контроля и настройки зонда при обзоре образца и позиционировании зонда. Размер поля обзора видеосистемы 1x0,75 мм, размер окна визуализации 640x480 точек, частота смены кадров до 30 кадр/с.[br][/br][br][/br]В зависимости от специфики исследовательских задач СЗМ НТ-206 может комплектоваться специализированными сменными модулями для проведения микротрибометрических и адгезиометрических измерений или наноиндентирования.[br][/br][br][/br]СЗМ может использоваться в научно-исследовательских и промышленных лабораториях, а также в учебном процессе в вузах.[br][/br][br][/br]Изображение поверхности в атомно-силовом микроскопе получают при сканировании образца в горизонтальной плоскости зондом с радиусом кривизны острия порядка 2–20 нанометров, который зафиксирован на чувствительной консоли. Управляющая система отслеживает положение зонда относительно поверхности образца в каждой измеряемой точке и поддерживает расстояние зонд–образец на постоянном заданном уровне. Изменения вертикального положения зонда в каждой точке измерений образуют матрицу АСМ-данных, характеризующих рельеф и карты свойств поверхности, которая записывается в файл и используется в дальнейшем для обработки, визуализации и анализа результатов измерения.
Тип технологии
Конструкция
Технические и экономические преимущества
НТ-206 позволяет проводить исследования в следующих режимах:[br][/br]* Контактная статическая АСМ (отображение рельефа, силы прижатия, латеральных сил)[br][/br]* Латерально-силовая микроскопия (в режиме контактной статической АСМ)[br][/br]* Бесконтактная динамическая АСМ[br][/br]* Полуконтактная динамическая АСМ (аналог Tapping Mode®, отображение рельефа, сдвига фазы, амплитуды колебаний АСМ-зонда)[br][/br]* Микроскопия фазового контраста (в режиме смешанной динамической АСМ)[br][/br]* Двухпроходный режим (для статической и динамической АСМ)[br][/br]* Двухпроходный режим с переменным подъемом (для статической и динамической АСМ)[br][/br]* Многоцикловое сканирование участка (для статической и динамической АСМ)[br][/br]* Магнитно-силовая микроскопия (двухпроходная методика)[br][/br]* Токовый режим[br][/br]* Статическая силовая спектроскопия (с расчетом количественных характеристик, поверхностной энергии и модуля упругости образца в точке анализа)[br][/br]* Динамическая амплитудно-частотная силовая спектроскопия[br][/br]* Наноиндентирование, наноцарапание, наноизнашивание по линии[br][/br]* Силовая нанолитография[br][/br]* Температурно-зависимые измерения (для всех вышеперечисленных режимов)[br][/br][br][/br]Экономическая эффективность заключается в том, что комплекс может конкурировать с наиболее сложными и дорогими существующими аналитическими приборами, обеспечивает необходимую точность и воспроизводимость результатов анализа при значительно меньшей стоимости без предъявления достаточно высоких требований к квалификации пользователей. Настоятельная потребность разработчиков новых материалов, нанотехнологий, исследователей в точном экспресс-анализе наноматериалов, позволяющем повысить качество выпускаемых изделий и их конкурентоспособность, гарантирует значительное число потребителей такой аппаратуры и методик выполнения измерений.
Текущая стадия развития
Находится в эксплуатации/производстве
Другое:
Внедрено и используется в нескольких десятках образовательных, научно-исследовательских и производственных организациях в Республике Беларусь, а также странах ближнего и дальнего зарубежья.
Статус прав интеллектуальной собственности
Секретное know-how
Область применения технологии
Физика твердого тела, микроэлектроника, оптика, тонкопленочные технологии, нанотехнологии, полупроводниковые технологии, сверхтвердые материалы, стекла и сопряженные технологии, микро- и нанотрибология, чистовая обработка поверхностей, полимеры и композиты на их основе, системы прецизионной механики, магнитной записи, вакуумной техники, визуализация наноструктур, анализ биологических объектов (мембран, клеток и т.д.).
Классификатор Европейской сети трансфера технологий EEN
Нано- и микротехнологии
Предпочитаемые регионы
Северная Америка
Южная Америка
Европа
Азия
Африка
Австралия
Предлагаемые формы сотрудничества
Договор НИОК(Т)Р
Совместное предприятие
Продажа
Поддержка, предоставляемая при передаче технологии
Техническая документация
Услуги персонала
Ссылка на этот профиль:
http://ictt.by/ShowRequests/ShowTitlesOffCat.aspx?loc=1&ru=1&id=2725
|
